Sviluppato un nuovo metodo per ottenere informazioni su materiali cristallini. E’ il risultato di uno studio condotto dai ricercatori del gruppo di Scienza e Ingegneria dei Materiali della Universidad di Cadiz, in Spagna. Svelate nuove tecniche di misurazione dei parametri reticolari di molti semiconduttori e metalli, nonche’ dei materiali ceramici avanzati. La portata di questa invenzione sta nella possibilita’ di utilizzo al fine di estrarre informazioni molto accurate e migliorare progettazione e uso di questi materiali. Il metodo e’ stato progettato a partire da un diagramma di diffrazione di elettroni e verra’ utilizzato per estrarre informazioni accurate dopo aver analizzato le distanze tra atomi, le strutture e le composizioni di materiali cristallini in scala sub-nanometrica, dal momento che questi ricercatori lavorano a risoluzioni di picometri (un miliardesimo di metro), “fondamentale – hanno spiegato Daniel Carvalho, responsabile del brevetto, e il suo supervisore Francisco M. Morales – per raggiungere un miglioramento della progettazione e l’eventuale uso di materiali in sistemi strutturali e funzionali in applicazioni come la nanoelettronica e le telecomunicazioni del futuro”. I due studiosi sono gia’ al lavoro per sviluppare anche un software che aiuti il marketing e la distribuzione del metodo. Alla ricerca ha partecipato anche Rafael Garci’a Roja, dirigente del Gruppo accademico.
