Elettronica in panne, colpa dello spazio. In qualità di utenti tecnologicamente evoluti – dotati di smartphone, tablet e laptop – spesso ci capita di dover fare i conti con improvvisi quanto inspiegabili black out dei nostri dispositivi. Nella maggioranza dei casi, i responsabili di un blocco nelle funzionalità (o di una schermata blu sul desktop che recita “errore”), sono i sistemi operativi – Apple o Android – e la memoria primaria.
Talvolta però, il crash di telefoni e computer può essere indotto dall’interferenza tra la RAM del dispositivo e le particelle subatomiche cariche generate dai raggi cosmici provenienti dal di fuori del Sistema Solare. Secondo una recente ricerca, presentata nel corso del meeting annuale dell’American Association for the Advancement of Science si tratta – spiega l’Agenzia Spaziale Italiana – di un enorme problema, considerando la dipendenza della nostra società dalla tecnologia, perlopiù invisibile al pubblico dei “consumatori elettronici” medi.
Quando i raggi cosmici infatti “viaggiano” nello spazio ad una velocità pari a frazioni di quella della luce, colpiscono la barriera dell’atmosfera creando una “cascata” di particelle secondarie – neutroni energicamente carichi, muoni, pioni e particelle alfa – che travolge tutto, esseri umani compresi, come un torrente subatomico.
Sebbene senza certificati effetti sulla salute umana, sembra diverso per i devices elettronici: quando le particelle cariche raggiungono i circuiti integrati possono modificare i pacchetti di dati immagazzinati nella memoria e mandare in tilt il dispositivo.
Secondo gli ultimi studi, un cellulare da 500 kilobyte di memoria può incorrere nell’errore in media una volta ogni 28 anni, un router da 25 giga è soggetto ad un’interruzione ogni 17 ore, un passeggero che voli a quota 10.000 chilometri e utilizzi un laptop con 500 kilobyte di RAM può vedere il proprio dispositivo andare in tilt una volta ogni 5 ore.
Il gruppo di ricercatori che ha preso in esame gli effetti dei raggi cosmici sui chip dei computer di 8 generazioni, inclusi gli attuali che hanno transistor grandi solo 16 nanometri: le analisi confermano che il tasso di fallimento di un’operazione indotto da un cortocircuito elettrico generato dall’interferenza di una particella proveniente dallo spazio è di 1 ogni miliardo di ore/lavoro. Una percentuale bassissima ma preoccupante se consideriamo che ci sono miliardi di transistor nella maggior parte dei dispositivi che utilizziamo e miliardi di sistemi elettronici nella nostra vita.
